X射線探傷機(jī)原理：

利用X射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中有衰減的特性來發(fā)現(xiàn)其中缺陷的一種無損探傷方法。

X射的氣孔、夾線可以檢查金屬與非金屬材料及其制品的內(nèi)部缺陷。例如焊縫中渣。未焊透等體積性缺陷。     
X射線探傷優(yōu)點(diǎn)：

圖像直觀、照相底片可以長期保存，對薄壁工件探傷靈敏度很高。對體積狀缺陷敏感，缺陷影象的平面分布真實(shí)、尺寸測量準(zhǔn)確。對工件表面光潔度沒有嚴(yán)格要求，材料晶粒度對檢測結(jié)果影響不大,可以適用于各種材料內(nèi)部缺陷檢測。所以在壓力容器焊接質(zhì)量檢驗(yàn)中得到廣泛應(yīng)用。

X射線探傷缺點(diǎn)：

對面狀缺陷不敏感，射線對人體有害，射線源昂貴，防護(hù)成本更高。射線照相法底片評定周期較長，對厚壁工件檢測靈敏度低。

X射線探傷常用標(biāo)準(zhǔn)簡介及適用范圍：

1、中國鍋爐、壓力容器行業(yè)射線探傷標(biāo)準(zhǔn)：
JB/T4730.2—2005   承壓設(shè)備無損檢測第二部分：射線檢測
GB/T3323—2005   鋼溶化焊對接接頭射線照相及焊縫質(zhì)量分級

2、美國標(biāo)準(zhǔn)：ASME第五卷A分冊第二章、B分冊第二十二章；

3、國標(biāo)：
DG1410---2006     射線檢測（一般性要求）
DG1410.1---2006   鋼對接接頭射線照相檢驗(yàn)規(guī)程
DG1410.2---2006   小口徑管對接接頭射線照相檢驗(yàn)規(guī)程
DG1410.3---2006   小口徑管對接接頭射線實(shí)時成像檢驗(yàn)規(guī)

4、JB/T4730.2—2005 標(biāo)準(zhǔn)將焊縫射線照相的質(zhì)量分為A級、AB級、B級三個級別（級別不同、照相靈敏度、清晰度、對比度不同）
B 級為最高級，一般應(yīng)用于核容器焊縫檢驗(yàn)；
A級為最低級，可應(yīng)用于一般結(jié)構(gòu)件焊縫檢驗(yàn)；
AB為中間級，主要應(yīng)用于鍋爐、壓力容器受壓對接焊縫檢驗(yàn)；

5、JB/T4730.2—2005標(biāo)準(zhǔn)將焊縫質(zhì)量分為四個級別；
1級為最高級，常用于有特別要求設(shè)備之對接焊縫質(zhì)量驗(yàn)收；
2級主要用于鍋爐、壓力容器的重要受壓對接焊縫之質(zhì)量驗(yàn)收。
3級主要用于重要結(jié)構(gòu)件及鍋爐、壓力容器一般受壓對接焊縫之質(zhì)量驗(yàn)收。
4極為最低級，要求焊縫質(zhì)量4級合格的產(chǎn)品不應(yīng)該再進(jìn)行RT檢驗(yàn)。