如何消除質譜測試中87Rb和87Sr同質異位素的相互干擾是獲得高精度87Sr/86Sr和87Rb/86Sr比值的關鍵。傳統分析方法一般采取的方案是：用強陽離子樹脂技術(AG50W-X8/12)先分離出高純的Rb和Sr組分，然后將Rb和Sr分別點樣于不同的燈絲，分別進行熱電離質譜(TIMS)測試。盡管傳統方案具有極高的準確度，但耗時費力、實驗成本高。表現在兩個方面：(1) TIMS的離子源無法在大氣壓條件下直接測試，樣品室每次只能安裝有限的(<21件)樣品，完成這些樣品分析后，再裝入下一批待測樣品，這將消耗大量時間(~3小時)用于抽真空。此外，煩瑣的操作步驟(燈絲清洗、點焊、去氣及點樣)將消耗大量的人工，極大地制約了實驗室的工作容量。(2)樣品測試所用的高純燈絲材料(Re、Ta、W)均為一次性，全部依靠進口，價格昂貴，大量的燈絲消耗增加了實驗成本。
TIMS對Rb和Sr的電離溫度和電離效率表現出顯著差異，比如，Rb和Sr最佳的電離溫度分別為700±50℃和1400±50℃，Rb和Sr的電離效率分別為20%～40%和5%～16%(取決于測試所用的燈絲材料和發射劑)。然而，這些TIMS獨有的分析特性在過去的研究中并未被合理優化利用。基于TIMS的技術特點，理論上，如果將極微量的Rb(～1 ng)和常量的Sr(～1 μg)進行混合，低溫測試Rb時，Sr無法被電離，因此不會有87Sr對87Rb的干擾，高溫測試Sr時，微量87Rb對87Sr干擾可通過燈絲預熱而得到完全消除。
中國科學院地質與地球物理研究所正高級工程師李潮峰及其合作者，系統優化了傳統ID-TIMS技術，在不犧牲分析精度和準確度的條件下，顯著提升了TIMS測試效率。他們將微量Rb(1-1.5 ng)和常量Sr(0.4-3 μg)混合點樣于同一Re燈絲，先在低溫段(650℃-700℃)測試Rb，然后在中高溫段(1200℃-1250℃)快速預熱清除Rb，最后在高溫段(1400℃-1450℃)完成Sr的測試(圖1)。通過優化質譜測試和制備流程，建立了順序測定同一燈絲上Rb-Sr濃度和同位素比值的分析方法。
該項技術的可靠性采用一系列國際巖石標準進行系統評價，測試結果表明，該技術的分析精度和準確度與傳統方法一致(圖2)。該方法的優點有：無需離子源放氣和切換杯結構，順序測定Rb-Sr，節省了一半抽真空時間，拓展了樣品測試通量;燈絲用量減少一半，測試成本大大降低;煩瑣的實驗準備工作(燈絲清洗、點焊、去氣)被簡化，降低了一半人工消耗。相關研究成果發表于Talanta。
