電子產品的X射線檢查已經存在了幾十年，但電子產品設計和制造向更小、密度更高轉變正不斷推動X射線技術的發(fā)展。
簡單的高分辨率X射線圖像通常會提供足夠的信息來處理通過或失敗決定，現代電路系統的高密度“雙面性”通常會阻止這種情況。這一挑戰(zhàn)將檢驗行業(yè)引入了X射線技術，該技術使用戶可以將頂層與底層分開：乳膠照相術。 白皮書下載
美國前防長佩里：目前發(fā)生核戰(zhàn)爭或核事故可能性比冷戰(zhàn)時期還要高
