在數字信息飛速發展的今天，固態硬盤作為電腦的核心部件、數據存儲的核心設備，其可靠性已成為衡量產品質量的重要標準。一款質量過硬的硬盤，能夠經受各種復雜環境的考驗：無論是在平原廣袤之地，還是在高原的崎嶇之巔，抑或是在環境最為極端的太空空間站，都能保證正常的運行、穩定的性能表現。
然而，在一般情況下我們的產品卻很難有機會觸及到以上的每一種場景。近日，憶聯針對消費級SSD AM541開展大氣中子試驗，該測試通過加載極端大氣中子輻射環境，以測試AM541的可靠性。
為什么用中子試驗 驗證 固態硬盤可靠性？
中子，在自然界中無處不在，尤其在高原地區，中子通量隨著海拔的升高而急劇增加。中子對固態硬盤具有潛在威脅，它能與半導體微電子相互作用會引發單粒子效應(SEE)，導致器件功能異常、數據丟失甚至損毀。尤其是在高海拔等中子密度高的地區，這種威脅更為嚴峻，一旦引發故障，不僅會影響我們正常的工作和生活，也極有可能造成不可估量的經濟損失。
為應對這一挑戰，憶聯以AM541為樣本，在中國散裂中子源大氣中子輻照譜儀開展了系列測試，通過監測其在極端中子輻射環境下的正常工作時間，以驗證其在極端場景中的高可靠性，真正讓用戶使用無憂。
中子試驗 ： 百萬倍大氣中子注量 率 ，A M541 通過 嚴苛 “考驗”
試驗選取憶聯AM541及國內友商的同類產品A，以相同樣本量、相同的試驗環境進行測試：所有盤片均以2.67×10(5)n/cm(2)·s的中子注量率進行輻照，直至盤片失效或測試時長超過20分鐘，試驗過程中通過自動化試驗腳本記錄硬盤正常運行時間。
中子輻照現場圖
據中子試驗相關專家介紹，此次試驗采用的中子注量率遠超自然環境的中子強度，即使相對于海拔較高的阿里、西藏等高原地區，本次試驗的中子密度也超過百萬倍，通過監測硬盤在試驗環境下的工作時間，可推算出樣品在各種復雜環境中的平均故障時間及可靠性。
經過多組試驗顯示，在2.67×10(5)n/cm(2)·s中子注量率輻照下, AM541的平均運行時間可達12.5分鐘，遠遠高于友商產品A的9.2分鐘，這表明在相同環境下，AM541具有更高的可靠性。
